Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis
Professor Dr. Ludwig Reimer (auth.)Рік:
1985
Видавництво:
Springer Berlin Heidelberg
Мова:
english
Сторінки:
476
ISBN 10:
3662135647
ISBN 13:
9783662135648
Серії:
Springer Series in Optical Sciences 45
Файл:
PDF, 12.63 MB
IPFS:
,
english, 1985