Structure Analysis of Advanced Nanomaterials
Takeo Oku
High-resolution electron microscopy allows the imaging of the crystallographic structure of a sample at an atomic scale. It is a valuable tool to study nanoscale properties of crystalline materials such as superconductors, semiconductors, solar cells, zeolite materials, carbon nanomaterials or BN nanotubes.
Категорії:
Рік:
2014
Видання:
Digital original
Видавництво:
De Gruyter
Мова:
english
Сторінки:
168
ISBN 10:
3110304724
ISBN 13:
9783110304725
Файл:
PDF, 14.95 MB
IPFS:
,
english, 2014