Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024
Про збір коштів
пошук книг
книги
Пожертвування:
21.8% досягнуто
Увійти
Увійти
авторизованим користувачам доступні:
персональні рекомедації
Telegram бот
історія завантажувань
надіслати на Email чи Kindle
управління добірками
зберігання у вибране
Особисте
Запити на книги
Вивчення
Z-Recommend
Перелік книг
Найпопулярніші
Категорії
Участь
Підтримати
Завантаження
Litera Library
Пожертвувати паперові книги
Додати паперові книги
Search paper books
Відкрити LITERA Point
Пошук ключових слів
Main
Пошук ключових слів
search
1
Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations
World Scientific Publishing Co
Ronald Reifenberger
atomic
cantilever
fundamentals
substrate
afm
6in
9in
b1917
september
interaction
microscopy
dipole
molecule
distance
surface
atoms
sample
foundations
voltage
forces
shown
frequency
molecules
required
deflection
different
function
modulus
interactions
values
parameters
photodiode
displacement
scan
scanning
radius
simulation
thermal
feedback
angle
measured
polar
separation
range
signal
deformation
calibration
defined
discussed
laser
Рік:
2016
Мова:
english
Файл:
PDF, 13.27 MB
Ваші теги:
0
/
0
english, 2016
1
Перейдіть за
цим посиланням
або знайдіть бот "@BotFather" в Telegram
2
Надішліть команду /newbot
3
Вкажіть ім'я для вашого боту
4
Вкажіть ім'я користувача боту
5
Скопіюйте останнє повідомлення від BotFather та вставте його сюди
×
×